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求购8753ES,回收8753ES,回收8753ES
日期:2020-03-23 15:49
数量:1000
价格:9999
规格:Agilent 8753ES
包装:二手

详细介绍
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Agilent 8753ES回收网络分析仪:陈卫平13549336060[手机/微信号]二十四小时热线

回收:Agilent 8753ES
回收名称:网络分析仪

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Agilent 8753ES | HP8753ES | HP-8753ES 3G/6GHz射频矢量网络分析仪安捷伦30kHz-3G/6GHz

产品型号: HP8753ES
产品介绍: 8753ET和8753ES射频网络分析仪为满足研制实验室或生产制造的测试需求(回收网络分析仪),在速度、性能和方便使用上提供了无与伦比的结合。8753ET和(回收网络分析仪)8753ES以其覆盖3或6GHz频率范围的集成化S参数测试装置、达(回收网络分析仪)110dB的动态范围以及频率扫描和功率扫描,为表征有源或无源网络(回收网络分析仪)、元器件和子系统的线性和非线性特性提供了高效能的解决方案。
(回收网络分析仪)产品系列的特点
(回收网络分析仪)选择传输/反射分析仪(ET型)或S参数分析仪(ES)允许您针对您(回收网络分析仪)的应用选择性能与价格之间的最佳关系。网络分析仪的特点是有2个(回收网络分析仪)独立的测量通道,可同时测量和显示所有4个S参数。可以选择用幅(回收网络分析仪)度、相位、群延迟、史密斯圆图、极坐标、驻波比或时域格式来显(回收网络分析仪)示反射和传输参数的任意组合。便于使用的专用功能键能迅速访问(回收网络分析仪)各个测量功能。可以利用达4个刻度格子在高分辨率的LCD彩色显示(回收网络分析仪)器上以重叠或分离屏面的形式来观察测量结果。为了驱动更大的外(回收网络分析仪)部监视器,以便于观察,增加了与VGA兼容的输出。


8753ES features a built-in 50or75 S parameter test device that can provide a wide range of amplitude and phase measurements. Full two port error correction function to provide a high level of accuracy, S parameters of the test device is easy to carry out the positive, reverse sweep frequency measurement, without the need to reverse the test piece. In order to improve the flexibility of configuration options 011 cancelled the built-in test device, so as to be able to choose their desired test device. 8753es options 011 can and 85046A/B and for 85047a s parameter test device and for other special application of special test equipments used. Option 014 provides a test device can be configured for maximum flexibility. In order to carry out the convenient and accurate measurement in the non coaxial system, the calibration of TR*/LRM* is provided. Use the built-in configuration suitable to remove the calibration technology, can achieve high precision measurement of the non insertion type device.


8753ES的特点是有一个能提供各种各样幅度和相位测量的内置50或75S参数测试装置。全二端口误差修正功能提供极高的精度水准,S参数测试装置则便于进行正、反向扫频测量,而无需倒置被测件。为了提高配置的灵活性,选件011取消了内置测试装置,以便能选择自己所需的测试装置。8753ES选件011可与85046A/B和85047A S参数测试装置以及供其它特殊应用的专用测试装置配套使用。选件014为获得最大灵活性提供了可配置的测试装置。为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量,特提供了TR*/LRM*校准。利用内置适配置器移去校准技术,还能实现对非插入式器件的高精度测量。



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