浪涌电流 | 半导体测试方法测试标准 JB/T 7626-2013 | 只测: ITSM:0A~9000A | |
6 | 正向漏电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4206.1 | 只测: 1nA~100mA |
7 | 反向漏电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4211.1 | 只测: 1nA~100mA |
8 | 正向导通压降 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4226.1 | 只测: IT:0~6000A |
9 | 稳态热阻 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3181 |
品名: 半导体模块高温反偏电子元器件
价格:议价
发货:3天内