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半导体模块高温反偏电子元器件测试
日期:2024-04-03 18:58
 
浪涌电流 半导体测试方法测试标准 JB/T 7626-2013 只测: ITSM:0A~9000A
6 正向漏电流 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4206.1 只测: 1nA~100mA
7 反向漏电流 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4211.1 只测: 1nA~100mA
8 正向导通压降 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4226.1 只测: IT:0~6000A
9 稳态热阻 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3181

品名: 半导体模块高温反偏电子元器件
价格:议价
发货:3天内
联系方式
公司:西安长禾半导体技术有限公司
姓名:蒲经理(先生)
电话:81153217
手机:17792574070
地址:陕西省西安市高新区锦业路69号
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