| 1 | 直流增益 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3076.1 | 只测： 1～50000 |
| 2 | 集射极饱和压降 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3071 | 只测： 0～1250A |
| 3 | 集射电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3041.1 | 只测： 0～100mA |
| 4 | 集基电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3036.1 | 只测： 0～100mA |
品名： 半导体模块功率循环电子元器件测试
价格：议价
发货：3天内
